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Research Highlight
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[이대수 교수 연구실] 원자간력현미경을 통한 나노단위 변전성 연구에 대한 리뷰

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저널명 Appl. Phys. Rev. 8, 041327 (2021)
담당교수이대수 교수
조회1,141
작성자최고관리자
발표일2021-12-29

본문

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Caption: 원자간력현미경 (AFM)을 통한 변전성 연구 및 물성 제어


[이대수 교수 연구실] 원자간력현미경을 통한 나노단위 변전성 연구에 대한 리뷰

지난 10년 동안 고체에서 나노스케일 변전성의 엄청난 과학적, 기술적 잠재력이 검증되어 왔다. 변전성은 변형률 기울기에 대한 전기 분극의 보편적인 생성에 대한 현상이고, 물질의 크기가 나노 스케일 수준으로 작아질 때 반비례적으로 변전 효과의 크기가 향상될 수 있다. 이 독특한 스케일링 효과를 기반으로 나노스케일 변전성은 흥미로운 물리적 현상을 보여주었으며 새로운 전자, 전기기계 및 광전지 응용을 유망하게 했다. 나노스케일 변전성을 활용하는 가장 강력한 방법 중 하나는 원자간력현미경 (AFM) 팁을 통해 재료의 표면을 눌러 큰 변형률 기울기를 생성하는 것이다. 이 소위 AFM 팁 프레싱을 통해 모든 재료의 반전 대칭을 국소적으로 깨고 반전 비대칭과 관련된 모든 흥미로운 물리적 현상을 연구할 수 있다. 이 기술은 최근에 나노스케일 변전성에 대한 많은 중요한 연구를 촉진했지만 효과적인 사용을 위해서는 여전히 더 탄탄한 기반이 필요하다. 

이대수 교수 연구팀은 이 리뷰논문을 통해서 AFM 팁 프레싱을 통해 나노스케일 변전성을 탐구하기 위한 포괄적인 지침을 제공하였다. 또한 AFM 팁 프레싱을 통한 나노스케일 변전성의 최근 진행 상황과 향후 연구 방향에 대해 논의하였다.


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